生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù)，一站式周到服務。作為一家專注于試驗設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商，皓天設(shè)備致力于為消費者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。
快溫變高低溫實驗箱，半導體芯片應力測試
一、半導體芯片應力測試用途
該設(shè)備專為半導體芯片、芯片封裝、IC模塊、晶圓等產(chǎn)品的溫度應力測試設(shè)計，通過模擬快速溫變、高低溫環(huán)境，施加溫度應力，驗證芯片在高低溫循環(huán)、劇烈溫變過程中的機械穩(wěn)定性、電氣性能可靠性，提前暴露芯片封裝開裂、焊點脫落、芯片失效、性能漂移等隱患，適配芯片研發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)檢全流程，滿足半導體行業(yè)相關(guān)測試標準，為芯片質(zhì)量管控提供核心數(shù)據(jù)支撐。
快溫變高低溫實驗箱，半導體芯片應力測試
二、技術(shù)參數(shù)
溫度范圍：-70℃～+150℃（可定制-80℃～+200℃，適配高功率芯片測試）；溫變速率：5℃/min、10℃/min、15℃/min線性可調(diào)（空載），負載狀態(tài)下穩(wěn)定保持≥5℃/min；溫度均勻度：≤±2℃（芯片測試區(qū)域精準控溫）；溫度波動度：≤±0.5℃；內(nèi)箱容積：50L～408L（可定制小型專用腔體，適配芯片小批量測試）；升溫時間：常溫→+150℃約25min，降溫時間：常溫→-70℃約50min；電源：AC380V 3P 50Hz；安全標準：符合GB/T 2423.1/2/22、JEDEC半導體測試標準；控制精度：溫度分辨率0.01℃，程序控制誤差≤±0.3℃。
三、產(chǎn)品結(jié)構(gòu)
1. 箱體結(jié)構(gòu)：外殼采用冷軋鋼板靜電噴塑，耐腐蝕、抗干擾；內(nèi)膽為SUS304不銹鋼，光滑易清潔，無雜質(zhì)污染，適配芯片潔凈測試需求；高密度聚氨酯保溫層，有效鎖溫，減少能耗，避免箱內(nèi)溫度波動。2. 測試腔體：定制小型測試托盤，可固定芯片、晶圓，防止測試過程中位移；預留標準測試接口，方便連接芯片測試儀器，實現(xiàn)溫變與電氣性能同步檢測。3. 送風系統(tǒng)：頂部強對流循環(huán)風道，搭配低噪音風機，確保箱內(nèi)溫場均勻，無局部溫差，避免芯片局部應力不均。4. 安全結(jié)構(gòu)：獨立電氣控制柜，布線規(guī)范，防電磁干擾（適配芯片精密測試）；配備門開報警、超溫保護、漏電保護、壓縮機過載保護，保障設(shè)備與芯片安全。5. 操作結(jié)構(gòu)：嵌入式7英寸觸摸屏，操作面板簡潔，可快速設(shè)置測試參數(shù)，適配實驗室高效測試需求。
四、溫度控制系統(tǒng)
采用工業(yè)級高精度溫度控制器，中文操作界面，簡單易上手；支持程序控制與定值控制雙模式，可編輯120組測試程序，每組99段溫變曲線，支持循環(huán)測試、階梯溫變，適配芯片不同應力測試場景；搭載PT100鉑金電阻傳感器，采樣響應迅速，精準捕捉溫度變化，反饋具備PID智能調(diào)節(jié)算法，自動匹配加熱、制冷功率，實現(xiàn)快速溫變與精準控溫，避免溫度過沖損傷芯片；支持數(shù)據(jù)實時顯示、存儲、USB導出，可追溯測試全過程數(shù)據(jù)，滿足芯片測試溯源要求；內(nèi)置超溫、傳感器故障報警功能，及時止損，保護芯片與設(shè)備。
五、制冷系統(tǒng)
采用二元復疊式制冷系統(tǒng)，搭配品牌壓縮機，制冷強勁、運行穩(wěn)定，噪音低，適配實驗室安靜環(huán)境；使用環(huán)保制冷劑（R404A+R23），無環(huán)境污染，且降溫速率穩(wěn)定，可快速達到深低溫環(huán)境，滿足芯片低溫應力測試需求；核心部件（冷凝器、干燥過濾器、電子膨脹閥）均采用優(yōu)質(zhì)品牌產(chǎn)品，抗老化、故障率低，延長設(shè)備使用壽命；具備壓縮機延時啟動、高低壓保護、過熱保護功能，避免制冷系統(tǒng)損壞；支持風冷/水冷兩種散熱方式，可根據(jù)實驗室安裝環(huán)境靈活選擇，確保制冷系統(tǒng)長期穩(wěn)定運行。
六、應用領(lǐng)域
核心應用于半導體行業(yè)，涵蓋：半導體芯片（邏輯芯片、功率芯片、存儲芯片）、芯片封裝件、IC模塊、晶圓、半導體傳感器、車載芯片、工業(yè)芯片等產(chǎn)品的溫度應力測試；同時適配科研機構(gòu)、半導體研發(fā)企業(yè)、芯片生產(chǎn)廠家、第三方檢測機構(gòu)，用于芯片研發(fā)階段的性能驗證、生產(chǎn)過程的質(zhì)量管控、出廠前的合格檢測，以及芯片可靠性老化測試，助力企業(yè)提升芯片產(chǎn)品質(zhì)量與穩(wěn)定性。
